XTOP 2012

9月15-20日にロシアのサンクトペテルブルクで開催されたX線のイメージングに関する国際会議XTOP 2012(11th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging)で、志村准教授と森本君(M2)が埋め込みターゲットを用いたX線位相イメージングと放射光白色X線マイクロビームによる太陽電池用多結晶シリコンの評価について研究成果を発表しました。


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