XTOP 2012
9月15-20日にロシアのサンクトペテルブルクで開催されたX線のイメージングに関する国際会議 XTOP 2012 (11th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging)で、志村准教授と森本君(M2)が埋め込みターゲットを用いたX線位相イメージングと放射光白色X線マイクロビームによる太陽電池用多結晶シリコンの評価について研究成果を発表しました。
大阪大学 大学院工学研究科 物理学系専攻 精密工学コース 先進デバイス工学領域 渡部研究室のブログです。
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